點選進入全屏檢測
全面檢測 OLED 燒屏與區域性殘影印記
純色輪播
執行中 · 按 F 鍵全屏

測試模式

速度

2.0秒 / 輪
極速 0.3s慢速 5.0s

快捷鍵

切換模式
← →
速度
↑ ↓
暫停 / 繼續
Space
全螢幕
F / Esc

燒屏常識

OLED 燒屏

有機發光材料物理老化,不可逆永久留痕

短暫殘影 (Retention)

靜電荷暫留,播放動態畫面可自行恢復

LCD 螢幕

僅液晶分子暫態記憶,發生永久燒屏機率極低

螢幕殘影、鬼影與燒屏檢測

排查顯示器陰影/殘影(monitor shadow)、圖像鬼影與 OLED 燒屏,瀏覽器即可完成。

多色相子畫素衰減分離

獨立測試紅、綠、藍單色通道。尤其是 OLED 中壽命較短的藍色有機發光層,可第一時間發現單通道老化。

高頻黑白棋盤格微刺激

透過極高對比度的棋盤格交替閃爍,促使處於暫態鎖定狀態的液晶分子或暫留電荷快速鬆弛釋放。

全譜平滑動態漸變掃描

平滑移動的彩虹色階能夠敏銳暴露螢幕某一固定區域(如工作列、電視臺標、遊戲血條)的色度斷層。